Sony Xperia XZP氣密性測(cè)試是指為了確認(rèn)手機(jī)的氣密性，以及它是否能正常阻止氣體從手機(jī)的殼體進(jìn)入內(nèi)部的試驗(yàn)。這是一項(xiàng)嚴(yán)格的測(cè)試，手機(jī)會(huì)被放置在一臺(tái)機(jī)器中，并會(huì)被接受一定程度的氣壓，時(shí)間較長(zhǎng)，簡(jiǎn)而言之，它可以有效測(cè)試出手機(jī)的氣密性。

Sony Xperia XZP氣密性測(cè)試是指為了確認(rèn)手機(jī)的氣密性，以及它是否能正常阻止氣體從手機(jī)的殼體進(jìn)入內(nèi)部的試驗(yàn)。

為了確保手機(jī)的氣密性，保障用戶在使用過(guò)程中手機(jī)不會(huì)因外部氣體泄露而影響手機(jī)的使用壽命。

氣密性測(cè)試是通過(guò)將手機(jī)放置在一臺(tái)機(jī)器中，將手機(jī)暴露于一定程度的氣壓，時(shí)間較長(zhǎng)，來(lái)測(cè)試手機(jī)的氣密性。

Sony Xperia XZP氣密性測(cè)試可以有效檢測(cè)出手機(jī)的氣密性，保障用戶在使用過(guò)程中手機(jī)不會(huì)因外界氣體泄露而影響手機(jī)的使用壽命。